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变长编码在SoC测试中的应用研究 摘要 随着系统芯片(SoC)集成度和复杂性的迅速提高，大规模集成电路测试 需要的测试数据相应增加，而传统自动测试设备(ATE)的存储量、工作频率 以及带宽的有限性，使得SoC测试面临着测试时间过长、测试难度和测试成本 急剧增加等诸多问题。这些问题可以通过更换高档的测试设备解决，但将导致 测试成本的增加。 测试数据压缩技术能有效的减少测试时间和降低测试成本，变长到变长的 编码使用变长的数据块来编码变长的原始数据，可以取得很好的压缩效果。 为了解决SoC测试过程中ATE在存储空间以及带宽等方面所面临的问题， 本文提出了一种部分编码测试数据压缩方案，该方案是变长到变长的编码。通 过对Mintest集的分析可以看出，测试集中有很多0游程的长度为0，在有些电 路中甚至占一半以上。如果对这些游程进行编码，编码后的码字长度比原始码 字长度还要长。因此，为了提高压缩率，部分编码只对0游程长度不为0的原 始数据进行编码，当0游程长度为0时，直接用码字“1”表示，因此只需要1 位，当遇到O游程长度大于O时，使用部分编码码表进行编码。实验结果表明， 该方法可以提高压缩率。 本文随后提出了一种新颖的组扩展编码压缩方案。通过对测试集的分析， 发现测试集中除了包含大量的0游程外，还包含有大量的1游程。组扩展编码 方案也是采用变长到变长的编码方式，它将每组的容量扩大，对任意长度的O 游程和1游程编码，更广泛地适应于不同的编码对象。该方案的解码器独立于 被测电路，因此特别适合于系统芯片中没有结构信息的IP核的测试。理论分析 和实验结果表明其具有较高的测试数据压缩率。 关键字：系统芯片；测试数据压缩；部分编码；组扩展编码 TheResearchof SoCTestonVariable LengthCoding ABSTRACT in and of W油rapidgrowthintegration complexity oftestdata in circuitstestincreases requiredlarge—scaleintegrated the andbandwidththetraditional of automatictest storagecapacity,frequency equipment resultsinsome inSoC as test (ATE)arelimited，which problemstest，such longapplication timeandcostoftest．Thesecallbesolved of itwilllead byreplacementhi曲一endATE，but toanincreasein of costtest． Testdata carl reducetimeandtestofcost．Inthe compressiontechnologyeffectively ofvariable—to-variable dataisencoded strategy run·length