《无机盐的存在对阴离子型表面活性剂临界胶束浓度的影响规律》.pdfVIP

第23卷第6期 上 饶师范学院学报 2003年 12月 JOURNAL01SHANGRAONORMALCOLLEGE Vol盘N20o0.63 无机盐的存在对阴离子型表面活性剂 Ih界胶束浓度的影响规律 张亿良，周日辉 (上饶师范学院化学系，江西 上饶334001) 摘 要:在25℃时用电导法5111加入无机盐(N.Cl,NkCCy,C.Cl,,$,CI,)的十二沈基硫酸钠溶液的电手率 ，‘用 作图法得出此类溶液的CMC值。根据CM(:的变化可得出无机盐的存在对阴离子型表面活性荆CMC值的影响规 律。实脸表明，表面活性别CMC值与无机盆中反离子浓度有如下关系:娜M:C二一2.4-0,095碱Nal,I邪MC=- 2.4-0.0511g[Cal, C=-2.3-0.021Ig[S.7。同时发现，以上直线方程中的奸率B与无机盐中反离子的电 价数z之间存在如下关系:B=0.116一3.20.10-za 关镇词:临界胶束浓度;阴离于型表面活性别;无机盆;电导率;反号离子 中圈分类号二)6〔46.542 文献标识码:A 文a编号:1004-223712003106-(YWR-Ofi 为了弄清楚无机盐的存在对阴离子型表面活性剂临界胶束浓度(CMC)的影响规律，本文通过在25℃时 分别向十二烷基硫酸钠溶液中加人无机盐NaCl,NazC03,CaC1SmC13，并用DDS-IIA型数字电导率仪(上海 伟业仪器厂)测量各个溶液的电导率。作电导率对十二烷基硫酸钠溶液浓度图.从图中可得到表面活性剂的 CMC值[m。对所加无机盐中正离子(简称反离子)的浓度和十二烷基硫酸钠CMC的变化值作进一步的数学 处理(作图或曲线似合)，可得出无机盐对阴离子型表面活性剂CMC值的影响关系式。本文主要研究主族元 素中的一价钠离子Na+和二价钙离子ca及副族元素中的三价稀土元素衫离子Sm对‘阴离子型表面活性 剂十二烷基硫酸钠CMC的影响规律，并对无机盐的阴离子对CMC的影响作简单讨论。 1 实验部分 1.1基本原理 少量表面活性剂溶人水中，浓度低时，以分子状态存在，当浓度达到或超过一定程度时，表面活性剂分子 会缔合成胶束，此时，溶液的许多物理性质如表面张力，摩尔电导、渗透压等变化趋势出现转折点。形成胶束 所需表面活性剂的最低浓度称为临界胶束浓度，以CMC表示。测量表面活性剂CMC有多种方法，本实验采 用电导法测量一系列不同浓度的表面活性剂的电导率，根据电导率与浓度变化的曲线求出CMC值。 当表面活性剂溶液中存在无机盐时，盐中反离子能中和表面活性剂部分亲水基电荷，降低相电位，减少 胶束扩散双电层的厚度，从而使胶束较易形成，CMC降低川。 收稿日期二2003-06-04 作者简介:张亿良(1948一 )，男，江西余干人.副教授.主要从事物理化学的研究 万方数据 壑兰一 张亿良，周日辉:无机盐的存在对阴离子型表面活性剂临界胶束浓度的影响规律 49 1.2 电导率的测定 1.2.1十二烷基硫酸钠溶液电导率的测定 准确配制12个浓度分别为0.002,0.004,0.006,0.007,0.008,0.009,0.010,0.012,0.014,0.016,0.018,0. 020mol.dm-的十二烷基硫酸钠溶液。将上述溶液置于超级恒温水槽中(25土0.1`C)恒温20而刀，用DDS- 11A型电导率仪从稀至浓依次测定各溶液的电导率(见表1)，用于确定其CMC值，并与文献值比较。 1.2.2加人NaCl后的十二烷基硫酸钠溶液电导率的测定 准确配制六组十二烷基硫酸钠与NaCl的混合溶液，在每一组混合溶液中十二烷基硫酸钠的浓度和数目 同1.2.1，依次改变每组溶液