GB/T 7220-2004产品几何量技术规范(GPS)　表面结构　轮廓法　表面粗糙度　术语　参数测量.pdf

ICS17.040.20 一 一 ’o, 中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准 GB/T7220-2004 代替GB/T7220-1987 产品几何量技术规范 G（PS) 目巨 ．竺里竺，之曰G..一名． Z 人 ．望巴 、J． w 回 荟古fiq 半匕厚p｝太 表面粗糙度 术语 参数测量 GeometricalProductSpecifications(GPS）一 Surfacetexture--Profilemethod-- Surfaceroughness-Terminology-Measurementofsurfaceroughnessparameters 2004-11一11发布 2005-07-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 ．＊ 小TDR/IvWIIr辈秘埔瞥VMVMIM了荟发布 GB/T7220-2004 ．占名． ．日‘． 0li 青 本标准是对GB/T7220-1987《表面粗糙度 术语 参数测量》的修订。修订后的标准在技术内 容上与 1987年标准和现行的产品几何量技术规范 G（PS)新标准体系基本一致，满足了国内各有关行业 的需求。 本标准与GB/T7220-1987相比主要变化如下： — 根据GB/T3505-2000，对GB/T7220-1987标准的术语定义进行了协调。 — 在标准编写格式上按新的GB/T1.1的规定作了相应的修改。 修改后的版本，作为GB/T6062-2002的补充。所涉及到的相同定义，均应以GB/T6062为准。 本标准由全国产品尺寸和几何技术规范标准化技术委员会提出并归口。 本标准起草单位：机械科学研究院、时代集团公司、中国计量科学研究院、北京市计量科学研究所、 哈尔滨量具刃具厂。 本标准主要起草人：王欣玲、王忠滨、高思田、吴迅、郎岩梅。 本标准于1987年 1月首次发布。 GB/T7220-2004 产品几何量技术规范 G（PS) 表面结构 轮廓法 表面粗糙度 术语 参数测量 1 范围 本标准规定了有关表面结构 粗（糙度、表面波纹度和原始轮廓）参数测量的术语及定义。 本标准适用于轮廓法评定表面结构参数测量的术语定义。 2 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注 日期的引用文件，其随后所有 的修改单 不（包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的必威体育精装版版本。凡是不注日期的引用文件，其必威体育精装版版本适用于本标准。 GB/T3505-2000 产品几何技术规范 表面结构 轮廓法 表面结构的术语、定义及参数 (eqvISO4287：1997) GB/T6062-2002 产品几何技术规范 G（PS) 表面结构 轮廓法 接触 触（针）式仪器的标称特 性 e（qvISO3274：1996) 3 术语和定义 由GB/T3505和GB/T6062确立的以及下列的术语和定义适用于本标准。 3.1 轮廓转换 profiletransformation 在测量过程的任一阶段 如（：触针滑移、滤波、记录等）预期地或非预期地导致轮廓表现形式产生变 换的过程。