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封装设备中对二极管和晶体管焊接黏附检测电路设计.pdf

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封装设备中对二极管和晶体管焊接黏附检测电路设计.pdf

第12卷第4期 光学精密工程 V01.12No.4 andPrecision 2004年8月 0ptics Engineering Aug.2004 文章编号 1004—924X(2004)04一0099一05 封装设备中对二极管和晶体管焊接 黏附检测电路设计 高跃红 (中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林长春130033) 摘要:研制的金丝球焊机是用于焊接soT(小尺寸表面安装)的二极管、晶体管的半导体封装设备,实现用金丝导线将芯 片上的电路接点与封装外壳的引脚相连。焊接黏附检测是确保焊接质量的关键环节。焊接检测电路巧妙利用焊接芯片 二极管、晶体管共有的PN结特性设计,检测输入信号采用周期脉冲信号,焊接检测信号以高低电平区分焊接情况。为 避免烧球时高压打火在金丝上产生的高压损坏焊接检测电路,设计采用继电器分时切换金丝烧球与焊接检测。经实验 证明所设计的检测电路完全能够实现所有型号SOT封装二极管、晶体管器件的焊接检测。 关键词:金丝球焊机;微电子封装设备;第1焊点;第2焊点 中圈分类号:TP206文献标识码:A transistorin encapsulationequipment GAO Yu}hong Fi咒8MPc^口72主cs口,zd (C^口竹gc^M咒工竹s£if“£Po,(功髓cs, Ph,sics, C^i咒esP C^i竹口) 30033, Ac口d已7孢yo,SciP,zfPs,C^口咒gf矗“挖1 wirebonder our Abstr眦t:G01d researched isasemiconductor to by corp. encapsulation equipment bond SOT diodeand to thecircuit onCOMStothe encapsulationjstransistor,realizingjoin point chip framewith wire.Bo“dtestisthe of bond Thecircuit forbondtest gold keyensuringquality. designed takes ofPNunction whichdiodeand havein advomraglj chavacteristic, transistorcommon,andtest input Thebondtest can conditionswith signaladoptsperiodpulsesignal. signaldistinguishbonding andlowelectric Circuit

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