X射线衍射技术在纳米材料中的应用.pdfVIP

X射线衍射技术在纳米材料中的应用 of Diffractionin Application Nanomaterials X—Ray 陆金生 LuJin Sheng 00045 帕纳科公司(原飞利浦公司分析仪器部)北京办事处1 Office10004 5 PANalYtical，Beijing 摘要 本文介绍用x射线衍射技术测试纳米材料的晶粒度、颗粒度、结晶度的方法， 并介智{了各种纳米材料的物相鉴定、物相定量的新方法。同时还介绍了各种纳米材料 微厩、微量、薄膜、包层的物相鉴定方法。 AbstractInthis discussthe ofthe in diffractionnanomaterials paper,we applicationX-ray themeasurementsof thestructure including grainsize，granularsize，erystallinity,and identificationand of alsointroducesomenewmethodsof quantitativeanalysisphases．We microareaandthinfilm diffraction． analysisby usingX—ray 前言 纳米材料的晶粒度、颗粒度、结晶度及其微区、薄膜、包层的物相组成与其性 能密切相关。如何准确地提供上述数据将直接影响到纳米材料的研制与应用。 原飞利浦公司分析仪器部现改名为帕纳科公司，公司提供了根据必威体育精装版的x射线衍 射技术设计出的各种附件及软件，满足了上述要求。 1、晶粒度的测定 晶粒愈细小则衍射线形愈宽化，但是显微应力也会引起线形宽化，为了获得由晶 Profile”软件，根据 粒细化单一引起的线形宽化值，首先使用帕纳科公司提供的“Line 富利叶数学变换的方法，计算出线形由于样品晶粒细化引起的线形宽化值，利用此数 177 据及仪器的工具宽化度值，按照澍乐公式，计算出纳米材料样品的晶粒尺寸。上述计 算可以自动完成。 2、颗粒度的测定 纳米材料由丁颗粒细小，极易形成团粒，采阐通常的粒度分析仪将会给出错误的 数据。采用x射线小角散射法可以克服团粒造成的困难，准确地给出纳米材料的颗粒 尺寸。为了获得…束平行度极佳的准直X光嫩，K期以来采HJ狭缝控制，冈而有四狭 缝相机及Kratky相机的方法。如果x光束准直性略差，则会增大原光束附近的本底， 从而掩盖了小角散射的信息。冈此要求狭缝很细小，但是这样又使得入射光束的强度 数拾倍的降低，也会降低小角散射的信息。 帕纳科公司根据x射线不反射，几乎不折射，但是产生衍射的原理，设计了～种