用探孔场发射显微镜研究单壁碳纳米管的场发射.pdfVIP

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第 期 电 子 学 报 Voi . 31 No . 11 11 年 月 2003 11 ACTA ELECTRONICA SINICA Nov . 2003 用探孔场发射显微镜研究单壁碳纳米管的场发射 1 1 1 1 1 2 1 1 张兆祥 ,张耿民 ,金新喜 ,侯士敏 ,赵兴钰 ,顾镇南 ,刘惟敏 ,薛增泉 ( 北京大学信息科学技术学院电子学系,北京 ; 北京大学化学工程与分子学院,北京 ) 1. 100871 2 . 100871 摘 要: 探孔场发射显微镜可以观测样品的场发射图象,又能测量局域场发射电流和总场发射电流与电压的关 系. 本文利用具有二维调节探孔位置的场发射显微镜装置测量了单壁碳纳米管场发射图象不同区域、不同吸附状态和 经过热处理后的 特性 I- V . 关键词: 场发射;场发射显微镜;单壁碳纳米管 中图分类号: 文献标识码: 文章编号: ( ) TN304 A 0372-2112 2003 11-1623-03 Study of Field Emission from Single-walled Carbon Nanotubes Using Probe-hole Method 1 1 1 1 , , , , ZHANG Zhao-xiang ZHANG Geng-min JIN Xin-xi HOU Shi-min 1 2 1 1 , , , ZHAO Xing-yu GU Zhen-nan LIU Wei-min XUE Zeng-guan ( , , , , ; 1. Department of Electronics School of Electronics Engineering and Computer Science Peking Uniuersity Beij ing 100871 China , , , ) 2 . College of Chemistry and Molecular Engineering Peking Uniuersity Beij ing 100871 China :

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