ICP_OES信号漂移的时间函数校正研究_李海峰.pdfVIP

第35 卷第2 期 中国测试 Vol.35 No.2 2009 年3 月 CHINA MEASUREMENT TEST Mar.2009 ICP-OES 信号漂移的时间函数校正研究 李海峰 （中国计量科学研究院，北京 100013） 摘 要：通过建立漂移与时间的线性或非线性函数关系，可对测量数据进行合理校正，提高分析测试的准确度 和精密度。结果表明，校正函数与谱线选择有关，通过本方法校正可提高分析测试的精密度约 10 倍，达到 0.07%～0.09% 。通过方法验证，表明预测值与实测值基本一致，应用该方法是可行的。该方法可对大批量数据进行 快速、方便的漂移校正，有效提高分析测试的准确度和精密度。 关键词：标准物质；内标；仪器分析；电感耦合等离子体发射光谱仪；汞 中图分类号： ； 文献标识码： 文章编号： （ ） TP207.1 TH744.1 A 1674-5124 2009 02-0011-03 Study on time function revision of ICP-OES signal drift LI Hai-feng （National Institute of Metrology ，Beijing 100013 ，China） Abstract ：The linear or non-linear functional formula was used to correct data reasonably to increase accuracy and precision. The results show that the formula correlate with analysis line. The accuracy was about 0.07% ～0.09% ， 10 -fold or so increased. Through validating the method ，the data measured was coincided with that predicted ， which showed that this method was feasible in drift correction. Thus ，this method can be applied to analysis amounts of data ，increasing analysis accuracy and precision. Key words ：Certified reference materials ；Internal standard ；Instrument analysis ；ICP-OES ；Mercury [8] 1 引 言 标法、单点法、连续本底校正 等。内标法是补偿易 电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）是目 电离元素引起的非光谱干扰的方法之一，可同时对 [1-3] [9-10] 前应用广泛，研究比较深入的一类仪器 ，一个常 仪器漂移和基体干扰进行校正 ，但过程烦琐，对 见问题是仪器的漂移。从概念讲，漂移是指基线或 操作的要