超声检测标准讲解.ppt

* ②、缺陷在探测面一侧 缺陷自身高度： ΔH=ΔDW * ⑵、内部缺陷 ①、垂直缺陷 a、单斜探头 探头置于任一探测面，前后缓慢移动探头扫查缺陷，当发现缺陷的上下端点反射波时，再微动探头使缺陷的上端点前和下端点后毗邻出现如图所示的上下端点衍射回波，记录回波位置，按下式计算缺陷高度。 ΔH=ΔDW下-ΔDW上 * * b、双斜探头“V”形串接法 在缺陷距探测面较深或者是端点衍射信号被端点部位的散射波所淹没无法识别时，可选双斜探头V型串接法进行测高。 * 操作步骤如下： ? 选择两只相同型号的球晶片聚焦斜探头（或常规探头），且K值相同。? ? 用单斜探头确认缺陷的上下端点距探测面的深度。端点衍射波的识别见1）。 ? 将探头（探头1）置于缺陷上端点位置，另一只探头（探头2）置于缺陷的另一侧与之相对称的位置，把仪器转换成一发一收工作状态，将反射波幅调至荧光屏的80%。 ? 移动探头2，使端点反射波幅度至荧光屏的80%时，固定探头2，移动探头1扫寻端点反射波。该信号波幅达到最高或其前方出现新的最高反射波时，固定探头1的位置，再次移动探头2，扫寻上端点衍射回波， * 如此轮流移动两只探头直到最终确认缺陷端点衍射波为止。测定缺陷端点衍射波的时间延迟（时间差值）即可获得缺陷上端点距探测面的深度ΔDW上。 ? 依此轮流移动两只探头，按上述相同方法扫寻缺陷下端点衍射波。即可获得缺陷下端点距探测面的深度ΔDW下。 按下式计算缺陷高度： ΔH=ΔDW下-ΔDW上 * ②、倾斜缺陷 * ? 在探测A、B端点时，用探头缓慢移动扫查缺陷，在发现A点和B点衍射回波时，精确测量探头移动距离L1，然后再将探头移到对应侧，用以上相同方法测得L2。 ? 如果L1和L2移动的距离是对称的。这可解释为垂直缺陷。原则上L1L2或者是L2L1，则是倾斜缺陷。 ? 缺陷的倾角θ可按下式计算： θ＝tan-1［（L－ΔH tanβ）/ΔH］ * ? 倾斜缺陷按下式计算其倾斜长度AB。 AB＝［（L－ΔH·tanβ）2＋ΔH 2］1/2 式中：AB—缺陷倾斜长度，mm； ΔH—缺陷倾斜高度，mm； tanβ—斜探头折射角正切值； L（L1或L2）—探头从B点移动至A点的 距离，mm。 * 二、端部最大回波法(附录J P135) 1、端部最大回波：当缺陷的端部回波的幅度达到最大时（也即缺陷端部回波峰值开始降落前瞬时的幅度位置），该回波称为缺陷端点最大反射波。 * * 2、测试条件： ⑴、探头：聚焦斜探头 ，K1，2.5-5MHz ⑵、方法：直射法，如有困难也可用一次 反射法 ⑶、灵敏度：按需要，应使噪声不超过 20%屏高。 3、测试方法 ⑴、内部缺陷：如图（a）所示，探头前后扫查，探头相应于探头前后位置缺陷的上下端部回波，按下式求出缺陷高度J。也可用深度1∶1调整时基线，直接测定。 J=（W2-W1）cosθ 式中：W1和W2分别为缺陷上、下端部峰值回波处距入射点的声程；θ为折射角。 * ⑵、表面开口缺陷：如图（b）所示，探测出缺陷端部的峰回波，按下列公式求出缺陷高度J。 ①、缺陷开口处与探伤面在同一侧时［见图（b）右半图］ J=Wcosθ 式中：W为缺陷端部峰值回波处距探头入射点的声程，θ为折射角。 ②、缺陷在探测面的对面时[见图（b）左半图] J=（t-W）cosθ 式中：W为缺陷端部峰值回波处距探头入射点的声程，θ为折射角，t为壁厚。 *