测量技术基础讲义-2011-01-11.pptVIP

测 量 技 术 基 础 测量的基本概念 常用量具及仪器 测量方法 测量误差和数据处理 测量基本概念 测量：就是把被测量与复现计量单位的标准量进行比较，从而确定被测量值的过程。按其比较特点，可将测量进一步分为检验和测量。 检验的特点是：只能确定被测量是否要规定的极限范围之内（即合格性判断），而不能得出被测量的具体数值。 测量的特点：测量结果为被测量的具体数值（以测量单位的倍数或分数表示）。 测量基本概念 测量过程包括四大要素：被测对象，测量单位，测量方法和测量精度等。 测量方法指：测量时所采用的方法，计量器具和测量条件的综合。 测量精度：指测量结果与其真值的一致的程度。任何测量过程都不可避免地存在测量误差。但是只要误差足够小，就可以认为测量结果是可靠的。 测 量 基 本 概 念 尺寸传递：指标准长度与被测长度之间的联系关系，按基准概念，尺寸传递关系可以表示为 : 国际基准 国家基准 工作基准 工作器具 被测零件。 常用量具及仪器 量块和极量量规 量块有时称块规，多制成长方体，量块有两个非常光洁且平面度很高的平行平面。这是它的测量面，上测量面中点到下测量面的垂直距离是量块的工作尺寸。 极量规（通止规）用来判断零件的加工误差是否在极限范围内。它分为通端和止端，能被通过又不能被止端通过的被测尺寸才是合格的尺寸。 二、游标尺和千分尺 游标尺按其用途分为三类：光标卡，光标浓度尺，光标高度尺。千分尺常用的有：外径千分尺，内径千分尺，深度千分尺。 百分表和千分表 结构相同，只是分度值不同。 万能精度密量仪 万能精度密量仪包括万能测长仪，工具显微镜，投影仪和光学分度头 角度尺 常用量具及仪器 编号 英文名称 中文名称 1 Gauge blocks 量块 2 Gauge blocks for caliper 千分尺专用量块 3 Gauge blocks for caliper 卡尺专用量块 4 Digital height master 数显步矩规 5 Optical parallel 平行平晶 6 Digital micrometer 数显千分尺 7 Calibratopm tester 千（百）分表检定仪 8 Smart scope Fov 精密影视坐标测量机 常用量具及仪器 编号 英文名称 中文名称 9 CMM 笛卡尔三坐标测量机 10 Profile Projector 投影仪 11 Linear Height 高度仪 12 Rockwell Superficial Hardness Testing Machine 洛氏硬度测量机 13 Dial test indicator 杠杆千（百）分表 14 Tube micrometer 测厚千分尺 15 Calliper 卡尺 16 Digimatic Height Gage 表显高度尺 测量方法的分类 直接测量 间接测量 绝对测量 间接测量 单项测量 综合测量 接触测量 非接触测量 主动测量 被动测量 静态测量 动态测量 等精度测量 非等精度测量 测量方法 测量方法是指测量所采用的测量原理，测量仪器和测量条件的总和。在实际工作中往往单纯从获得结果的方式来理解测量方法。 常用尺寸单位算 1mm=100c=1000um=1000000nm 10um=1c 0.1mm=10c 1um=1000nm 3D投影仪的精确度是：0.001mm 游标卡尺的精确度是：0.02mm 千分尺，千分表的精确度是：0.001mm 100±0.04mm 范围是(100.04—99.96)mm 100+0.05/-0.07范围是(100.05—99.93)mm 注：请使用正确的公式方可解决单位的换算 测量误差和数据处理 测量误差的概念 测量误差是测得值与正确值之差，即：测量误差=测得值-正确值（真值） 测量误差出现的规律分为： 系统误差 偶然误差 粗大误差 测量误差概念 测量误差=量测值与真实值之间的差异 误差因素：人-机-料-法-环 测量误差和数据处理 系统误差：它是由一个或几个确定的因素引起的误差，有一定的规律性，可根据其产生的原因采取一定的技术措施予以消除，或减小它的影响。 偶然误差：（随机误差）它是由不易控制的多种因素造成的误差。误差的大小和方向具有随机性。 测量误差和数据处理 粗大误差：指超出在规定条件下预计的测量误差，即歪曲测量结果的误差。造成粗大误差的原因有主观上的原因，如果读数不正确或操作不正确。也有客观上的原因，如外界的干扰。 误差产生的原因 计量器具的误差：如百分表传动机构放大不正确等。 接触误差：（基准误差）探测头与被测表面接触处粗糙度大，受测