GB/T 17711-1999钇钡铜氧(123相)超导薄膜临界温度Tc的直流电阻试验方法.pdf

ICS31030 L 90 中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准 cB/T17711-1999 忆钡铜氧(123相)超导薄膜临界 温度Tc的直流电阻试验方法 TheDC electricresistancetestmethodforthecritical temperatureTcofaYBa2Cu307_bsuperconductingthinfilm 1999一03一13发布 1999一10一01实施 国家 斤董 技 术 监 督 局 发布 Gs/T 17711-1999 前 言 本标准参考了TEC/TC 90国际标准草案Nb-Ti复合超导体剩余电阻比试验方法(RRR WD-1Ver. 2)”的制定方法和有关内容。按该国际标准的制定方法，标准的不确定度由循环测试(RRT) 的变化系数(COV)确定。由国家超导技术联合研究开发中心组织和资助中国科学院物理研究所、北京 大学、南京大学和中国科学技术大学的有关实验室对标准样品和大量实验样品进行了近两年的循环测 试，在可靠的实验研究的基础上起草了本标准。 本标准由中国科学院提出。 本标准由国家超导技术联合研究开发中心归口。 本标准负责起草单位:中国科学院物理研究所超导国家重点实验室。 本标准主要起草人:邓廷璋、尹渤、戴远东、王世光、程其恒、汪成友。 参加本标准的循环测试的还有:杨乾声、刘宜平、肖玲、王瑞兰、王焕华、周岳亮、胡晓东、熊光成、 连贵君、王继纯、张云、杨森祖、王华兵、周赣东、曹烈兆和阮可青。 标准分享网 免费下载 中华 人 民共和 国国家标 准 忆钡铜氧(123相)超导薄膜临界 温度Tc的直流电阻试验方法 cB/T 17711-1999 TheDC electricresistancetestmethodforthecritical temperatureTcofaYBa2Cu307.asuperconductingthinfilm 范 围 本标准规定了忆钡铜氧(123相)超导薄膜临界温度Tc,超导转变宽度△T,零电阻温度Tc。的直流 电阻试验方法。 本标准适用于膜厚为(100^-500)nn 的忆钡铜氧(123相)超导薄膜的临界温度Tc,超导转变宽度 OT,零电阻温度Tc。的测定。本标准不适用于多相和半导体型的忆钡铜氧超导薄膜上述参数的测定。 定义 临界温度Tc 当电流、磁场为零时，超导薄膜在某一温度以下呈现超导电性，此特定温度规定为临界温度Teo 转变宽度 △丁 超导薄膜由正常态向超导态过渡的温度范围。 零电阻温度Tco 超导薄膜保持直流电阻为零的最高温度。 3 Tc,AT和Tco的实验确定 在直流电阻试验方法中，首先应测出超导薄膜的直流电阻R随温度T变化的关系曲线(R-T曲 线)，然后，用以下方法确定上述定义的各参数。 3.1 Tc的确定 在直流电阻试验方法中，规定超导转变部分中点所对应的温度为临界温度Tc。在超导薄膜电阻随 温度变化的曲线(R-T曲线)上，将远离电阻发生急剧变化的高温端数据作线性拟合，求得一直线A;将 超导转变部分中间的数据作线性拟合，求得另一直线B。上述二直线的交点所对应的电阻值规定为正常 态电阻R。，如图1所示。二分之一R。所对应的温度值规定为Tc值，即: Tc=T(0.5 ) 3.2 转变宽度OT的确定 25%的R。与75%的R。所对应的温度范围规定为△T，即: AT =T(0.75R.)一T(0.25 ) 3.3 Tc。的确定 设定所用数字电压表的噪声电压镇。5pv，将电压Vo=o.5,w作为本方法中超导薄膜失超的判 据。若薄膜样品通过的电流为I，则所对应的