X荧光光谱分析软件的开发与应用.pdfVIP

维普资讯 第2l卷 ，第5期 光 谱 学 与 光 谱 分 析 k~ctralArlaIvsis ．21．No．5．pp6736·15 2001年 l0月 SDectrosc~DVand Oembe~．2帅 l X荧光光谱分析软件的开发与应用 蔡 鲲 (铁道部戚墅堰机车车辆工艺研究所，1苏 常州 213011) 摘 要 本文介绍了在能量色散X荧光分析仪上开发的文件资料管理系统，多元线性回归、快速半定量分 析、镀层厚度分析和多功能Lueas-moth强度校正等应用软件=这些软件的应用提高了分析水平、管理效率和 科研开发能力。 主墨词 能量色散X荧光光谱分析；多元线性回归；Luca~．toot],．强度校正；镀层厚度分析 中圈分类号：(365734 文献标识码：A 文章编号：1000．0593(2001l054)673．3 我所 1992年安装使用的F2．2810能量色散型x荧光分 析仪(西安二六二厂)虽然基本实现了摁I量和数据处理的自动 1 EDXRF文件资料管理系统 化，但是 ，随着大量文件资料的积累和科研开发的深入，原配 置的软件功能已无法满足需要，为此，我们 自行编制其他应用 设系统对与仪器分析工作有关的各种应用软件、文件资 软件并实施计算机管理。几年来，开展了以下几项工作 ．有关 料和分析结果分门别类地进行了集中管理，它具有下拉式菜 软件均应用 C语言和Foxbose数据库进行编制，并在实践运 单和自动查询、删改．统计和输出打印的功能，有效地提高了 行中获得了满意的效果。 工作效率和管理水平，图 1是一张典型的多层菜单屏幕显示。 K13 蜀Fe Ir】8 HP 返 回 功能选择 增加记录 删脒记录 修改记录 统蚶 查拽一显 、打印 返回 Fig·1 Maltilayw nl~llUdispl~ ∞ maIm ⅫenIsystem 样中镍的含量高而范围宽，图中曲线对应多项式幂扶K=2 2 多元线性 回归 其形态近似于吸收．增强效应理论中典型的双曲线。 光谱定量分析通常采用一元线性回归的校准曲线法，但 是在标样中分析元素浓度变化范犀较宽的情况下往往有必要 3 快速半定量分析 应用多元线性回归模型来进行拟台。 该软件将数值计算、误差分析和图形显示相结台，可 直 由于受基体效应的影响，x荧光定量分析对标样和样品 观而准确地翔别回归曲线的拟台质量及实验点的离散程度． 一 致性的要求极为严格，以致其应用受到较大的限制，而半定 并据此进行坏值剔除或多项式幂次的重新选择．明显提高l『 量分析虽然准确度略低于定量分析，但由于分析简便、快速、 绘制工作曲线的质量，图2是用该软件绘制的镍基台金中镍 通用性强而仍具有广泛的实用价值。本文在大量收集各种标 的浓度c与荧光强度 (相对强度)f之间的关系曲线。该套标 准材料的基础上采用