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C047
硅电极在电抛光区的刻蚀研究
刘峰名 薛样峰 任 斌 田中群*
厦门大学化学系.固体表面物理化学国家重点实验室,厦门361005
尽管硅材料己得到了半导体工业中最系统的研究和最广泛的应用,但随着各
种研究方法的发展以及在硅材料上的拓宽,人们可以在半导体硅上发现更多的具
有科学意义和应用背景的性质。自从电化学方法成功用于制备多孔硅材料以来,
在处理硅基材料方面,电化学方法以其操作简单、成本较低的特点逐渐受到人们
的重视。HF酸溶液是湿法处理硅片的最基本溶液,硅电极在HF酸中的电化学行
为主要分为三个阶段:氢析出区,多孔硅形成区和电抛光区1【]。人们一般在氢析
出区研究水的电解,但在此电位区间,硅本身的结构并不发生变化.由于多孔硅
在光电子器件和传感器等领域具有广泛的应用背景,硅在多孔硅形成区的电化学
行为是近几年研究的热门之一。在多孔硅形成区域,硅的刻蚀是各向异性的,硅
的表面在刻蚀过程中逐渐纳米化并出现量子约束效应。除研究硅的氧化和电化学
振荡外,人们很少研究硅在电抛光区的性质。一般认为,其刻蚀是各向同性的,
但亦有不少相悖的实验事实。因而,其刻蚀的机理和可能的应用还有待进一步的
研究。
本工作主要基于硅在电抛光区的电化学行为,选择合适的机械抛光预处理和
电抛光电流制备比较有序的颗粒状或者三角孔洞状的硅表面,其颗粒或孔洞尺寸
大于通常的能光致发光的多孔硅,但这种表面不仅具有独特的光学性质,如增强
的拉曼效应,并且由于基本保持了单晶硅结构,它还具有稳定的化学性质。
将硅片(n-Si(111),-100-cm)切成Sx5mm,并在其背面涂上In/Ga合金以形
成导电良好的欧姆结。然后,将连有铜导线的铜片和欧姆结固定在一起,固化后,
再用环氧树脂将其包封在聚四氟棒内。制备好的硅电极先进行适度的机械抛光,
然后在H2SO4:H202二1:4溶液中超声清洗。最后,转移到HF:C2H50H:H2O=1
1:3溶液中进行电抛光处理。
图1(a)是电抛光后的电极表面AFM图。从图中可见,刻蚀后的硅表面呈现
排列有序的三角形孔洞.我们发现C2H50H的浓度可以影响孔的大小和密度。三
角形的刻蚀图象是Si(111)晶面所特有的,其解释主要是基于各晶面的刻蚀速度的
差异和硅氢键的空间效应[21然而,已有的文献结果基本上是基于温和的化学刻
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蚀过程或者弱阴极极化下的刻蚀过程[2.3]
图1(a)中硅电极的机械抛光是先后在4#,6#金相砂纸和5pin,l}tm,0.31tm
氧化铝粉上进行的,然而,如果将硅电极仅从4#抛光至6#金相砂纸或者5pm氧 1
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化铝粉,其电抛光的表面却是均匀的颗粒状,如图1(b)所示。这种表面上的拉曼 £
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强度 (520.6cm-)是单晶硅上的10倍,如果考虑所刻蚀掉的硅原子和晶面变化,
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