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X-射线吸收 相关内容(Related topics) 轫致辐射、特征辐射、布喇格散射、微弱吸收、质量吸收系数、吸收边沿、 半吸收厚度、光电效应、康普敦散射、配对生产 原理和任务(Principle and task) 使用单晶分析仪可以对多色的 X-射线进行能量的选择，获得的单色辐射做 为主辐射，用它来测量各种金属的吸收行为与吸收厚度和主辐射波长的函数关 系。 实验设备(Equipment) X-射线基本组件， 35kV 09058.99 1 X-射线的角度计，35kV 09058.10 1 铜 X-射线管的插入组件 09058.50 1 计数管，B 型 09005.00 1 晶体锂-氟化物，裱好的 09056.05 1 X-射线吸收设备 09056.02 1 推荐的附件： X-射线组件软件，35kV 14407.61 1 数据线，插头/插座，9 针 14602.00 1 计算机 课题(Problems) 1． 由测量得到，铝、锌的主辐射强度的减弱是材料厚度和在两个不同 波长处的函数。从测量值的图中可以决定物质的吸收系数。 例图1 X-射线吸收实验设备 2 ． 确定铝、锌、锡箔物质吸收系数的厚度常数与波长的函数关系，这 3 可以用函数μ/ρ=f (λ )图象表示出来。 3 ． 确定铜、镍的物质吸收系数与波长和测量划分值的函数关系。计算K 层能量。 3 4 ． 函数μ/ρ=f (Z )被证明是有效的。 实验设备组装和实验过程(Set-up and procedure) 按例图1 组配实验设备。 把X-射线仪的开关关掉，在实验设备基板面的相应的套接口上连接好角度 计和计数管，设置角度计和裱好的晶体分析仪在左挡板，设置计数管在右档板。 记录光谱还需要以下的设置： ——自动和手动模式 ——门时50s 或更长 ——角步进宽度0.1 ° ——阳极电压Ua=25-35kV, 阳极电流Ia=1mA 注意： 请不要将计数管长时暴露在主辐射区下。 为了保证最小的相对误差，总是使用一个50s 或更长的门时，以致所有的脉 冲数总能高于 1000。在脉冲小时，本底辐射必须被计算在内，并在加速电压 Ua=0V 时，开始仔细考虑。 由于计数器存在死时间τ，高脉冲率N*应根据如下的式子，被修改为正确 的脉冲率N 。 为了确定两种不同材料的吸收是吸收器厚度的函数，首先，不用吸收器测量 不同观察角（波长）的强度，然后用吸收器再测一遍。两种金属箔可以结合使用。 ϑ Δϑ 在例图 2 中绘制测量值。在6 ° 16°范围内以 =1 °-2°方式递增，先确 定铝的吸收，然后是锡（d=0.025mm ）并绘制在例图3 中。 为了保证镍和铜（d=0.025mm ）的测量值达到足够的精度，可以在吸收边沿 附近增加测量点的数目和在宽波长内增加测量间隔（例图4 和例图5 ）。 理论和计算(Theory and evaluation) 如果让强度为I0 的X-射线穿透厚度为d 的物质，那么穿透后的强度将由如下 公式算出： 直线的斜率u量的单位是cm-1 ，它与主辐射的波长r和原子序数Z相关。 例图2 脉冲率的半对数坐标表述与吸收器厚度的函数关系 Ua=35kV ，I =1mV