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华南理工大学学报(自然科学版) 第38卷第5期 JournalofSouthChina of VoL38No.5 UniversityTechnology 2010年5月 Science May2010 (NaturalEdition) 聚3一己基噻吩聚合物薄膜晶体管的稳定性宰 刘玉荣1 左青云1 彭俊彪2 黄美浅1 摘要:为提高聚合物薄膜晶体管的稳定性,以单晶硅为衬底,二氧化硅为栅介质层,聚 3一己基噻吩(I弓HT)薄膜为半导体活性层,金属Au为源、漏电极,制备出聚合物薄膜晶体 管(PI’FfI),对该器件的电特性进行了表征,研究了该器件在空气环境下的稳定性,并对该 器件在空气中的不稳定性机理进行了讨论.结果表明:当器件暴露在空气中时,随着暴露 时间的增加,器件的饱和漏电流明显增大,阈值电压逐渐增加;空气中的水是影响器件特 性的主要因素;通过采用光刻胶钝化处理可以有效地改善P3HT.盯FT器件在空气中的稳 定性,并使器件的载流子迁移率提高3倍. 关键词:薄膜晶体管;聚3一己基噻吩;稳定性;钝化 中图分类号:TN321+。5 3一己基噻吩薄膜作为半导体活性层,制备出P3HT- 有机薄膜晶体管(OTFT)因其工艺简单、成本低 廉、易实现大面积等特点而在平板显示、有机集成电 P1’丌器件,对其电特性进行表征,考察器件在自然空 路、有机传感器等领域具有广阔的应用前景.近二十 气环境下的电特性变化,讨论影响P3HT.聊稳定 年来,OTYI的研究得到了广泛的关注,并取得了长性的主要因素及其机理,探索提高PBHT.P1rFT在空 足的进步¨…. 气中稳定性的有效措施. 用于制备OTFT器件的半导体层材料通常包括 1 实验部分 有机小分子和高分子聚合物,与小分子OTFF相比, 聚合物薄膜晶体管(Frr丌)因聚合物半导体薄膜具 以电阻率为0.9—1.1 有机械性能良好、热稳定性高、成膜方法简单、成本 晶外延片作衬底,首先采用标准硅平面工艺清洗硅 低、特别适合大面积成膜等特性而成为有机电子学的 片后,利用干氧热氧化法生长厚度为150am的SiO: 重要研究方向.目前,在众多门Ffr器件中,基于聚3. 薄膜作栅介质层(单位面积栅氧化层电容为23nF), 己基噻吩聚合物薄膜晶体管(P3HT—IyI’Fr)因载流子 并除去背面的氧化层;接着采用真空镀膜技术在真 迁移率相对较高而被认为是最有前途的P1’F-I’器件.空度为2mPa的条件下在基片的背面蒸发一层铝膜 然而,由于P3HT.唧器件在空气中的稳定性较作为栅(G)接触电极;然后将P3HT固体溶于氯苯 差,目前该器件的制备及测试大都在真空环境或N: 溶液作为旋涂沉膜溶液(16g/L),采用旋涂法沉积 保护下实现,这严重影响了它的实际应用.目前,对 一层厚度为70nm的P3HT薄膜作为半导体层;最后 于OTlZr器件在空气中的稳定性研究主要集中在基在相同真空度下蒸镀Au形成源(S)、漏(D)电极, 于小分子并五苯的OrIFT器件H司J,对于P3HT一聊该H耵器件结构剖面如图1所示.为增加器件的 器件在空气中稳定性的研究鲜见报道.据此,本研究 宽长比,利用掩膜版形成梳状源、漏电极,器件的沟 以单晶硅为衬底,热生长二氧化硅作为栅介质层,聚 收稿日期:2009.06.18 ·基金项目:广东省自然科学基金博士启动项目(8451064101000257) 作者简介:刘玉荣(1968-),男,博士,副教授,主要从事无机/有机信息器件研究.E—mail:phlyr@seut.edu.ell 万
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