Ni100-XPX纳米薄膜微观结构与磁性的研究,BN.pdfVIP

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第 13 卷 第 4 期 金属功能材料 Vol 13 ,  No 4                          2 0 0 6 年 8 月 Metallic Functional Materials August ,  2006 Ni100 - XPX 纳米薄膜微观结构与磁性的研究 1 2 章建高 ,B. N. 斯捷琴科 ( 1. 华南师范大学物理系 , 广州  510631 ; 2. 国立莫斯科大学物理系 , 俄罗斯) 摘  要 : 用化学沉淀法制备了纳米薄膜 Ni 100 - XPX (x = 2 40 , 2 89 , 321 , 3 60 , 464 , 545 , 7 64) 系列样品。用 Scherrer 法计算出组成薄膜的颗粒的尺寸为 7~15 nm 。利用振动样品磁强计测量了材料的磁学参数。对晶格常 数、饱和磁化强度、居里温度与磷含量的关系进行了详细的分析。 关键词 :晶格常数; 纳米薄膜 ;居里温度 ( ) 中图分类号:O484. 4   文献标识码 :A   文章编号 :1005 - 8192 2006 04 - 0001 - 03 Investigation of Structure and Ma gnetic Properties of Ni100 - XPX ZHAN G Jiangao ,B N Sjertsenko ( partment of Physics , South China Normal University 510631 , Guangzhou , China ; 1. De 2. Department of Physics , Moscow State University , Russia) ABSTRACT: The series of Ni100 - X PX nanofilm has been studied by the means of Xray defraction analysis , oscillating sample magnetometer The dimension of nanoparticles is about 7 ~15 nm the hysteresis loops with superparamagnetic characters has been observed for all samples The component dependence of crystal lattice constant , saturated magnetiza tion and Curie temperature has been analyzed KEY WORDS : crystal lattice constant ; nanofilm ; Curie temperature 〔3 〕 〔4 ,5 〕

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