IEC 62899-503-1-2020 Printed electronics – Part 503-1:Quality assessment – Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor 印刷电子. 第503-1部分: 质量评估. 印刷位移电流薄膜电晶体测量的试验方法.pdf

IEC 62899-503-1-2020 Printed electronics – Part 503-1:Quality assessment – Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor 印刷电子. 第503-1部分: 质量评估. 印刷位移电流薄膜电晶体测量的试验方法.pdf

  1. 1、本文档共20页,可阅读全部内容。
  2. 2、有哪些信誉好的足球投注网站(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
  3. 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  4. 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多

IEC62899-503-1

国@

Edition1.02020-05

INTERNATIONAL

STANDARD

col9ur

inside

Printedelectronics-

Part503-1:Qualityassessment-Testmethodofdisplacementcurrent

measurementforprintedthin-filmtransistor

c

..

ill

~

lil

,,

g

~

~

0

U』

C聊聊”咱叫巾’“阳-翩。”明制”

院刷刷刷y’”S够伽刷刷,.,阳””””ec

”。,阳晒刷刷嘈呻阳回啕阳刚嗣唰刷刷崎彻咽饲m’咱刷刷爬树肉1$$l!~。。目,02020Q6:~:54MOT

,.、THISPUBLICATIONISCOPYRIGHTPROTECTED

fz、c。pyright©2020IEC,Geneva,Switzerland

Allrightsreserved.Unless。therwisespecified,nopart。fthispubhcati。nmayberepr。ducedorυtilizedinanyform

orbyanymeans,electronicormechanical.includingphotocopyingandmicrofilm,with。υtpermissi。ninwritingI,。m

eitherIEC。rIECsmemberNationalCommitteeinthec。untryoftherequesterIfyouhaveanyquesti。nsab。utIEC

c。pyright。rhaveanenquiryaboutobta『阳ngadditionalrightst。thispublicati。n,pleasec。ntacttheaddressbel。wor

y。urI。calIECmemberNationalCommitteef。rfurtherinforn、ati。n.

IECCentralOf白ceTel.+41229190211

3,ruedeVarembeinf。@

您可能关注的文档

文档评论(0)

lq6799 + 关注
实名认证
内容提供者

2020-05-08注册

1亿VIP精品文档

相关文档